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高頻介電常數儀

簡要描述:LDJD-C高頻介電常數儀原理:
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質;
通(tong)過測定介質(zhi)損耗(hao)角(jiao)正切tanδ及介電常(chang)(chang)數(shu)(ε),可(ke)進一步了解影響介質(zhi)損耗(hao)和介電常(chang)(chang)數(shu)的各種因(yin)素,為提高材料(liao)的性能提供(gong)依據。

  • 產品型號:LDJD-C
  • 廠商性(xing)質:生產廠家
  • 更新時間:2022-05-07
  • 訪(fang)  問  量:1070

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間2萬-5萬
應用領域化工,生物產業,石油,建材,電子

LDJD-C高頻介電常數儀介紹:

介電(dian)常數測試儀采用高(gao)頻諧振法,并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。

它以單片機控制儀(yi)器,測量核心采用了(le)頻率數字鎖定、標(biao)準頻率測試點(dian)自動設定、諧振點(dian)自動搜(sou)索、Q值(zhi)量程自動轉換、數值(zhi)顯(xian)示等新技術,改進了(le)調諧回路;

使得調(diao)諧測試回路(lu)的殘(can)余電感減至zui低(di),并保留(liu)了原Q表中自(zi)動穩幅等技術,使得新儀器在使用時(shi)(shi)更(geng)為(wei)方便,測量時(shi)(shi)更(geng)為(wei)精確。

儀器(qi)能在較高的(de)測試頻(pin)率條(tiao)件(jian)下,測量高頻(pin)電(dian)(dian)(dian)感或(huo)諧振回路的(de)Q值,電(dian)(dian)(dian)感器(qi)的(de)電(dian)(dian)(dian)感量和分布電(dian)(dian)(dian)容量;

電容(rong)器的(de)電容(rong)量和損(sun)(sun)耗角正切(qie)值(zhi),電工材料的(de)高(gao)頻(pin)介質損(sun)(sun)耗,高(gao)頻(pin)回路有(you)效并聯(lian)及串(chuan)聯(lian)電阻,傳輸線的(de)特性(xing)阻抗等。

高頻介電常數儀參數:

LDJD-A型(xing)介(jie)電常數及介(jie)質損耗(hao)測試(shi)儀 信號源頻率(lv)覆蓋范圍10kHz~70MHz;主電容(rong)調節范圍:30~550pF;

LDJD-B型(xing)介電常數及介質(zhi)損耗測試儀信號源頻率覆蓋范圍10kHz~110MHz,主(zhu)電容調節范圍:30~540pF;

LDJD-C型介電常數及介質(zhi)損(sun)耗(hao)測試儀信(xin)號源頻率(lv)覆蓋范圍100kHz~160MHz,主電(dian)容調節(jie)范圍: 17~240pF(一體鍍銀成(cheng)型,精度高(gao));帶步進馬(ma)達,電(dian)容自動搜索

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